X光影像

X光影像最為一般所熟知的為穿透影像。利用X光經過待測物時,不同組成與結構對X光造成不同程度的吸收,形成強度對比的影像。而同步輻射光源可以提供更小尺寸的光源,結合高精度移動平台,將各種分析結果視覺化(二維分布影像)。常見的有元素分布、元素價態分布、優選晶體取向分布、應變應力分布、晶格缺陷分布…等。而在斷層掃描影像(Computed Tomography: CT)部分,同步輻射光源提供更高強度的光源,使高解析度影像可在較短時間內完成。而利用同步輻射光源的能量的可選擇性,在CT影像的判讀上,可對比出不同元素之分布,是材料分析上的一大利器。

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