X光繞射（X-ray diffraction: XRD），是一利用布拉格繞射（Bragg deflection）解析結晶材料的非破壞檢測技術的統稱。可用於瞭解材料內部的晶體結構（長程有序的原子排列）、化學組成以及物理性質，最廣為應用的以相（phase）與優選晶體取向（orientation）訊息取得。傳統in-house XRD設備，對於同步輻射光源提供了較自由的使用，隨到隨測，提供快速的訊息回饋。