Nano-Focusing X-Ray Laue Diffraction (2D n-XRD)

會員身分

樣品名稱 *

樣品內容(材料或化學式) *

晶體結構(Ex. BCC, FCC, HCP, Orth, Rhom, Unknown) *

樣品尺寸*

樣品大小(長x寬)決定是否共用載片來節省交換樣品及定位時間。厚度必須小於5mm

樣品傳輸及抽真空*

樣品成分及釋氣率決定抽氣時間

材料晶粒尺寸*

材料內部晶粒尺寸

指定位置分析*

是否指定位置進行元素分析(如是，寄送樣品時附上位置說明)，我們會利用實驗站內的SEM定位。粉末樣品請單獨選擇。

水平量測範圍(X)*

水平方向量測範圍，單位為微米(μm)

垂直量測範圍(Υ)*

垂直方向量測範圍，單位為微米(μm)

量測點距(Step Size)*

在設定的量測範圍內，數據點間的掃描距離

數據處理方式*

請選擇數據處理或分析方式。原始數據: 32bits tif 格式檔案。基本數據分析: 勞厄繞射視覺化圖像 (含結晶度及晶粒分布)。進階數據分析: 晶相、晶粒取向、缺陷密度、應變及應力。

數據交件時間*

選擇交付時間 (以SGService收到樣品日期起算，自動通知信上會註記日期)

是否寄回樣品*

選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)

備註

請輸入備註 (例：樣品保存條件、寄回樣品地址)

服務報價TWD 5

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