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X光影像
掃描X光影像
X光奈米吸收影像(n-XAS)
Nano-Beam X-Ray Absorption Mapping (2D n-XAS)
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確認
03
等待付款
04
訂單已確認
Nano-Beam X-Ray Absorption Mapping (2D n-XAS)
會員身分
樣品名稱
*
樣品內容(材料或化學式)
*
待測元素
*
- 請選擇 -
Mn K(6,539 eV)
Fe K(7,112 eV)
Co K(7,709 eV)
Ni K(8,333 eV)
Cu K(8,979 eV)
Zn K(9,659 eV)
Ga K(10,367 eV)
Ge K(11,103 eV)
As K(11,867 eV)
Se K(12,658 eV)
Br K(13,474 eV)
Rb K(15,200 eV)
Sr K(16,105 eV)
Y K(17,038 eV)
Zr K(17,998 eV)
Nb K(18,968 eV)
Mo K(20,000 eV)
Tc K(21,044 eV)
Ru K(22,117 eV)
Rh K(23,220 eV)
Pd K(24,350 eV)
Ag K(25,514 eV)
選擇待測元素。我們會量測元素能邊前後10 eV的範圍,0.2 eV的能量解析。
元素濃度範圍
*
- 請選擇 -
x < 1.0 wt%
1.0 ~ 5.0 wt%
5.0 ~ 10.0 wt%
> 10.0 wt%
待測元素之重量百分比濃度
樣品傳輸及抽真空
*
- 請選擇 -
固態金屬/陶瓷/無機材料
固態高分子/樹脂/有機材料
粉末材料
化石/孔隙/MOF材料
乾燥生物材料
樣品成分及釋氣率決定抽氣時間
指定位置分析
*
- 請選擇 -
是
否
粉末
是否指定位置進行元素分析(如是,寄送樣品時附上位置說明),我們會利用實驗站內的SEM定位。粉末樣品請單獨選擇。
水平量測範圍(X)
*
水平方向量測範圍,單位為微米(μm),最大掃描尺寸10 mm (10,000 μm)。
垂直量測範圍(Υ)
*
垂直方向量測範圍,單位為微米(μm),最大掃描尺寸10 mm (10,000 μm)。
量測點距(Step Size)
*
- 請選擇 -
0.1 μm
0.2 μm
0.25 μm
0.5 μm
1 μm
2 μm
5 μm
10 μm
在設定的量測範圍內,數據點間的距離
數據處理方式
*
- 請選擇 -
原始數據
基本數據分析
請選擇數據處理或分析方式。原始數據: HDF5格式能譜數據。基本數據分析: 元素價態分布。
數據交件時間
*
- 請選擇 -
標準交付(30 工作天內)
快速交付(15 工作天內)
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算,以自動通知信上註記日期為準)
是否寄回樣品
*
- 請選擇 -
否 (含處理費)
是 (台灣郵寄)
是(國際快遞)
選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)
備註
請輸入備註 (例:樣品保存條件、寄回樣品地址)
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