X光檢測服務

對稱X光繞射(θ-2θ scan)

對稱X光繞射(θ-2θ scan)

對稱X光繞射適用檢測單晶晶體或磊晶薄膜。通過對繞射峰寬的分析可以得知厚度、應力應變、及缺陷等資訊。量測角度為5~90度。
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X光二維透射成像(X-ray 2D Radiography)-平板偵測器

X光二維透射成像(X-ray 2D Radiography)-平板偵測器

世界最小光斑X光光源搭配CdTe探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-單光子偵測器

(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-單光子偵測器

世界最小光斑X光光源搭配CdTe探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-平板偵測器

(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-平板偵測器

世界最小光斑X光光源搭配CdTe探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-推廣品項

(160kV) 三維奈米級電腦斷層掃描(3D X-ray Nano-Scale Computed Tomography)-推廣品項

世界最小光斑X光光源搭配CdTe探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 平面分析)

X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 平面分析)

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), mainly used to obtain chemical details of the surface of condense materials.
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X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 深度分析)

X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 深度分析)

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), mainly used to obtain chemical details of the surface of condense materials.
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