FRINGE CLASS桌面式X射線繞射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發散狹縫照射在樣品上，樣品台位於測角儀中心，基於反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時，在特定的方向上發生繞射現象，經過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上，最終經過數據處理系統在分析軟件上展現出採集的繞射圖譜。

FRINGE CLASS是公司自主研發的一款多功能粉末繞射分析儀器，其融合XRD和計算機軟件等多項技術，可快速對粉末、塊狀或薄膜等形態的樣品進行主要物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析及結晶度測定，具有操作簡便、精度高、檢測速度快等特點，為材料研究、生物醫藥、礦物、塑料製品、半導體等眾多領域提供高精度的分析。