XRF工作原理是用X射線照射樣品，樣品受激發後產生X射線熒光。 X射線通常把元素原子K層和L層的內層電子打岀原子，產生的電洞被高能量的外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多餘的能量以X射線熒光輻射岀來。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的特徵。像指紋一樣，並且獨立於原子的化學價態。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。

ScopeX桌面式XRF分析儀採用了先進的工業設計及人工工程學理念，精緻美觀。儀器整體擁有更小的機身體積和更大的樣品倉，節約空間的同時，帶來了更高的樣品兼容性。不論是不同形態（固、液、氣、薄膜等）還是不同形狀（塊狀、片狀、線狀）的樣品，均可被準確分析。適用於大規模連續分析、過程控制、產品品質檢驗等環節，是石油、鍍層、貴金屬、水泥、礦物、金屬材料和塑料等多種行業的理想工具。