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Synchrotron-based techniques for health issues
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Synchrotron tomography applications
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檢測服務
同步輻射檢測
X光能譜
X光吸收分析
柔X光吸收能譜
Tender X-ray Extended Absorption Fine Structure (TX-EXAFS, 1.75~6 keV)
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03
等待付款
04
訂單已確認
Tender X-ray Extended Absorption Fine Structure (TX-EXAFS, 1.75~6 keV)
會員身分
樣品名稱
*
樣本內容或化學式
*
待測元素及濃度 (Ex. V/55wt%)
*
樣本其他元素濃度 (Ex. O/44wt%; Si/1wt%)
*
物質安全資料表號碼
基本費
*
- 請選擇 -
基本費率
基本費率包含樣品傳送及抽真空時間
待測元素
*
- 請選擇 -
Si K-edge(1,839 eV)
P K-edge (2,145.5 eV)
S K-edge (2,472 eV)
Cl K-edge (2,822 eV)
Ar K-edge (3,205.9 eV)
K K-edge (3,608.4 eV)
Ca K-edge (4,038.5 eV)
Sc K-edge (4,492 eV)
Ti K-edge (4,966 eV)
V K-edge (5,465 eV)
Te L-edge (4,341 eV)
I L-edge (4,557 eV)
Cs L-edge (5,012 eV)
Ba L-edge (5,247 eV)
La L-edge (5,483 eV)
選擇待測元素
元素濃度範圍
*
- 請選擇 -
Single Atom Materials
x < 1.0 wt%
1.0 ~ 5.0 wt%
5.0 ~ 10.0 wt%
> 10.0 wt%
待測元素之重量百分比濃度
樣本型態
*
- 請選擇 -
粉狀
薄膜 (無基板)
薄膜 (基板上)
樣品的外觀型態
量測方法
*
- 請選擇 -
TEY(全電子收量)
AEY(歐傑電子收量)
PFY(部分螢光收量)
科傳選定
PFY+TEY
吸收能譜探測方法。TEY:全電子收量(適用良導體及高濃度);AEY:歐傑電子收量(表面靈敏探測);PEY:部分螢光收量(不良導體、低濃度樣品)
數據處理
*
- 請選擇 -
原始數據
基本數據分析
請選擇數據處理或分析方式,基本數據分析包含 E/K/R空間能譜轉換。
數據交件時間
*
- 請選擇 -
標準交付(30 工作天內)
快速交付(15 工作天內)
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算,以自動通知信上註記日期為準)
是否寄回樣品
*
- 請選擇 -
否 (含處理費)
是 (台灣郵寄)
是(國際快遞)
選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)
備註
請輸入備註 (例:樣品保存條件、寄回樣品地址)
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加拿大幣(CAD)
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