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Grazing-Incident X-ray Diffraction (GIXRD/2θ-scan)

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樣品的尺寸將影響訊號收集的時間。
樣品型態*
粉末樣品會固定在矽基板上。
入射角度數量*
指定入射角的數量，指定角度請於備註中填寫
掃描角度範圍*
可量測角度上限取決於能量及積基板訊號
數據處理*
數據交件時間*
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算，以自動通知信上註記日期為準)
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