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同步輻射檢測
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X光吸收分析
硬X光吸收能譜
Hard X-ray Near Edge Absorption Fine Structure (HX-NEXAFS, 5~27 keV)
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03
等待付款
04
訂單已確認
Hard X-ray Near Edge Absorption Fine Structure (HX-NEXAFS, 5~27 keV)
會員身分
樣品名稱
*
樣本內容或化學式
*
量測元素濃度 (Ex. Fe/94wt%)
*
其他元素濃度 (Ex. Cr/3wt%; Mn/3wt%)
*
待測元素
*
- 請選擇 -
Ti K(4,966 eV)
V K(5,465 eV)
Cr K(5,989 eV)
Mn K(6,539 eV)
Fe K(7,112 eV)
Co K(7,709 eV)
Ni K(8,333 eV)
Cu K(8,979 eV)
Zn K(9,659 eV)
Ga K(10,367 eV)
Ge K(11,103 eV)
As K(11,867 eV)
Se K(12,658 eV)
Br K(13,474 eV)
Rb K(15,200 eV)
Sr K(16,105 eV)
Y K(17,038 eV)
Zr K(17,998 eV)
Nb K(18,968 eV)
Mo K(20,000 eV)
Tc K(21,044 eV)
Ru K(22,117 eV)
Rh K(23,220 eV)
Pd K(24,350 eV)
Ag K(25,514 eV)
Cd K(26,711 eV)
Cs L(5,012 eV)
Ba L(5,247 eV)
La L(5,483 eV)
Ce L(5,723 eV)
Pr L(5,964 eV)
Nd L(6,208 eV)
Pm L(6,459 eV)
Sm L(6,716 eV)
Eu L(6,977 eV)
Gd L(7,243 eV)
Tb L(7,514 eV)
Dy L(7,790 eV)
Ho L(8,071 eV)
Er L(8,358 eV)
Tm L(8,648 eV)
Yb L(8,944 eV)
Lu L(9,244 eV)
Hf L(9,561 eV)
Ta L(9,881 eV)
W L(10,207 eV)
Re L(10,535 eV)
Os L(10,871 eV)
Ir L(11,215 eV)
Pt L(11,564 eV)
Au L(11,919 eV)
Hg L(12,284 eV)
Tl L(12,658 eV)
Pb L(13,035 eV)
Bi L(13,419 eV)
選擇待測元素
元素濃度範圍
*
- 請選擇 -
x < 1.0 wt%
1.0 ~ 5.0 wt%
5.0 ~ 10.0 wt%
> 10.0 wt%
待測元素之重量百分比濃度
樣本型態
*
- 請選擇 -
粉狀
薄膜 (無基板)
液體
樣品的外觀型態
數據處理
*
- 請選擇 -
原始數據
基本數據分析
請選擇數據處理或分析方式,基本數據分析包含 E/K/R空間能譜。
數據交件時間
*
- 請選擇 -
標準交付(30工作天內)
快速交付(15工作天內)
特急交付(7工作天內)
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算,以自動通知信上註記日期為準)
是否寄回樣品
*
- 請選擇 -
否 (含處理費)
是 (台灣郵寄)
是(國際快遞)
選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)
備註
請輸入備註 (例:樣品保存條件、寄回樣品地址)
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